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在电子工业中,低温导电银浆因其能在较低温度下实现可靠的电气连接而被广泛应用于印刷电子、柔性电子以及光伏等领域。然而,当这些材料暴露于潮湿或高湿度环境中时,可能会出现离子迁移现象,这不仅影响了导电层的稳定性,还可能导致电路间的短路问题。本篇文章将聚焦于先进院(深圳)科技有限公司提供的研铂牌YB8601低温导电银浆,讨论如何通过优化配方和工艺来增强其抗迁移性能。
导电银浆是由微米级或纳米级银粉、有机载体以及其他添加剂组成的复合材料。它可以在相对较低的烧结温度下固化形成导电路径,适用于对热敏感基材上的电路制造。
离子迁移是指在电场作用下,金属离子从一个位置移动到另一个位置的过程。对于银浆而言,在湿气作用下,银离子可能溶解并在电场驱动下向阴极迁移,最终导致不同电位之间的短路故障。
由先进院(深圳)科技有限公司研发的研铂牌YB8601低温导电银浆具有以下特性:
低烧结温度:可在150°C以下完成固化过程;
高导电性:保证了良好的电流传输效率;
优异附着力:确保与各种基底材料的良好结合;
环境适应性强:能够承受一定范围内的温湿度变化。
选择合适的银粉粒径分布及形状可以减少接触电阻并降低表面能,从而抑制银离子的释放。例如,使用球形而非片状银粉有助于减小颗粒间的空隙,提高致密度。
在银粉表面添加一层薄的保护膜或者引入特定化学物质作为钝化剂,可以有效阻止水分侵入以及银离子向外扩散。比如,二氧化硅(SiO2)、氧化铝(Al2O3)等无机化合物涂层已被证明能显著改善抗迁移性能。
调整有机载体中的树脂类型及其比例,使得固化后的聚合物网络更加紧密,同时具备较好的柔韧性和耐候性。此外,某些特殊功能性的单体或共聚物还可以赋予银浆额外的防护效果。
适当调节烧结时间、温度曲线以及压力等因素,可以使银粉之间形成更稳固的连接结构,进而增强整个导电层的机械强度和化学稳定性。
为了验证上述措施的有效性,可以通过加速老化测试(如高温高湿试验)、盐雾腐蚀实验等方式评估改进后YB8601低温导电银浆的实际表现。根据已有研究结果表明,经过针对性处理后的银浆产品在恶劣环境下仍能保持稳定的电气性能,极大降低了因离子迁移引发短路的风险。
通过对研铂牌YB8601低温导电银浆进行深入分析,并采取一系列有效的改进步骤,我们能够显著提升该产品的抗迁移能力,为电子产品提供更加可靠的安全保障。未来的研究将继续探索更多创新解决方案,以满足日益增长的市场需求和技术挑战。
以上数据仅供参考,具体性能可能因生产工艺和产品规格而有所差异。
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